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DRK-204C 高精度薄膜測厚儀(0.001μm) 型號：DRK-204C
]資料
產品名稱:
DRK-204C 高精度薄膜測厚儀(0.001μm) 型號：DRK-204C
產品型號:
DRK-204C
產品展商:
國產
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簡單介紹
DRK-204C 高精度薄膜測厚儀(0.001μm) 型號：DRK-204C 薄膜檢測儀對**薄膜測量厚度、均勻性、薄膜彈性模量等，并且可以與計算機連接通訊，實現數據自動處理，從而提高了檢驗速度，**了檢測人員的勞動強度。該儀器對環(huán)境溫度波動不敏感，經濟**，適合于**薄膜企業(yè)的控制和計量檢測單位或部門的
DRK-204C 高精度薄膜測厚儀(0.001μm) 型號：DRK-204C
的詳細介紹
高精度薄膜測厚儀(0.001μm)
型號：DRK-204C |
貨號：ZH8052 |
產品簡介:
薄膜檢測儀對**薄膜測量厚度、均勻性、薄膜彈性模量等，并且可以與計算機連接通訊，實現數據自動處理，從而提高了檢驗速度，**了檢測人員的勞動強度。該儀器對環(huán)境溫度波動不敏感，經濟**，適合于**薄膜企業(yè)的控制和計量檢測單位或部門的檢測使用。
構成： 由光電傳感器、測量座、抬落機構、數顯表等部分組成。
特點：檢定快速，準確。測量值由數顯表直接顯示，讀數方便，減少人為讀數誤差；*特的設計使儀器結構穩(wěn)定性很高，溫度穩(wěn)定性很好；測量重復性好，漂移量很小?？蓪崿F**位置清零、
公/英制轉換、預先置數、自動求值和值等多種智能功能；可通過與計算機連接通訊實現測量結果的自動記錄、自動處理、打印及統計分析等；對環(huán)境溫度波動相對不敏感，現有基層計量室不
提高溫控要求即可使用。
主要參數
數顯分辨率：0.001μm
示值誤差：±(0.4+0.04L)μm
測量范圍：0-10mm
http://www.centrwin.com/ProductSearch.aspx?id=8052
DRK-204C 高精度薄膜測厚儀(0.001μm) 型號：DRK-204C |
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